Sendira紅外光譜橢偏儀

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SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR

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更新時(shí)間：2026-07-20

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SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測(cè)量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長(zhǎng)分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測(cè)量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。

光譜橢偏儀SENDIRA用于測(cè)量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見(jiàn)范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。

上一個(gè)：PSEL勞厄衍射系統(tǒng)