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設備介紹 允許進行多功能和創(chuàng)新的納米級熱分析 √ 精確評估薄膜和微粒的導熱系數(shù) √ 使用三維擴散模型揭示各向異性的熱導率 √ 量化深層界面的熱邊界導熱系數(shù) √ 在微觀尺度上可視化熱性能分析

隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過程的時代

以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列

型號：DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺式設計，可實現(xiàn)4Å（0.4nm）的優(yōu)異重復性，掃描速度可提高40%

DimensionFastScan原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)經(jīng)過專門設計，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設備復雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實現(xiàn)快速掃描

BrukerDimensionlcon”原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測試功能*，操作簡便易行